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summary
Testing of materials for semiconductor technology; determination of impurities in carrier gases and dopant gases; determination of C1-C3-hydrocarbons in nitrogen by gas-chromatography. (Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnologie; Bestimmung von Verunreinigungen in Träger- und Dotiergasen; Bestimmung von C1-C3-Kohlenwasserstoffen in Stickstoff mit Gaschromatographie.)
Details
Publisher
DIN
File size
291.8 KB
Pages
2
Format
PDF
Publication date
1993-09-01