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summary
Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 25-3: Test 25c: Rise time degradation. (Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 25-3: Prüfung 25c: Veränderung der Anstiegszeit.)
Details
Publisher
DIN
File size
170.81 KB
Pages
13
Format
PDF
Publication date
2002-08-01