loading preview...
summary
Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 6-2: Dynamic stress tests; Test 6b: Bump. (Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 6-2: Prüfungen mit dynamisch-mechanischer Beanspruchung; Prüfung 6b: Dauerschocken.)
Details
Publisher
DIN
File size
114.63 KB
Pages
7
Format
PDF
Publication date
2003-01-01