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summary
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 11: Rapid change of temperature; Two-fluid-bath method. (Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 11: Rascher Temperaturwechsel; Zweibäderverfahren.)
Details
Publisher
DIN
File size
132.45 KB
Pages
10
Format
PDF
Publication date
2003-04-01