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summary
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 18: Ionizing radiation (total dose). (Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 18: Ionisierende Strahlung (Gesamtdosis).)
Details
Publisher
DIN
File size
220.31 KB
Pages
16
Format
PDF
Publication date
2003-09-01