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summary
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 29: Latch-up test. (Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 29: Latch-up-Prüfung.)
Details
Publisher
DIN
File size
513.11 KB
Pages
27
Format
PDF
Publication date
2012-01-01