DIN EN 60749-38:2008-10

system DIN 2008-10-01 12 PDF 360 0 2026-07-05 01:53

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Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 38: Soft error test method for semiconductor devices with memory. (Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 38: Soft-Error-Prüfverfahren für Halbleiterbauelemente mit Speicher.)

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