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summary
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 42: Temperature and humidity storage. (Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 42: Lagerung bei Wärme und Feuchte.)
Details
Publisher
DIN
File size
410.36 KB
Pages
10
Format
PDF
Publication date
2015-05-01