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summary
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 43: Guidelines for IC reliability qualification plans. (Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 43: Leitfaden Pläne zur Zuverlässigkeitsqualifikation von integrierten Schaltungen.)
Details
Publisher
DIN
File size
1.17 MB
Pages
40
Format
PDF
Publication date
2018-05-01