DIN EN 60749-5:2003-09

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test. (Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 5: Lebensdauerprüfung bei konstanter Temperatur und Feuchte unter elektrischer Beanspruchung.)