DIN EN 60749-5:2018-01

system DIN 2018-01-01 8 PDF 440 0 2026-07-05 01:53

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Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test. (Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 5: Lebensdauerprüfung bei konstanter Temperatur und Feuchte unter elektrischer Beanspruchung.)

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