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summary
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 14: Forming limit measuring method of metallic film materials. (Halbleiterbauelemente - Bauelemente der Mikrosystemtechnik - Teil 14: Verfahren zur Ermittlung der Grenzformänderung metallischer Dünnschichtwerkstoffe.)
Details
Publisher
DIN
File size
497.84 KB
Pages
20
Format
PDF
Publication date
2012-10-01