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summary
Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET). (Stabilitätsprüfung unter Temperatur-Spannungs-Beanspruchung für Feldeffekttransistoren mit Metalloxid-Halbleiter (MOSFET).)
Details
Publisher
DIN
File size
413.33 KB
Pages
14
Format
PDF
Publication date
2007-01-01