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summary
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 41: Reliability testing methods of non-volatile memory devices. (Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 41: Zuverlässigkeitsprüfverfahren für nichtflüchtige Speicher-Bauelemente.)
Details
Publisher
DIN
File size
754.55 KB
Pages
35
Format
PDF
Publication date
2017-04-01