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summary
Semiconductor devices - Semiconductor devices for IOT system - Part 1: Test method of sound variation detection. (Halbleiterbauelemente - Halbleiterbauelemente für IOT-Systeme - Teil 1: Prüfverfahren für die Erkennung von Schallschwankungen.)
Details
Publisher
DIN
File size
1.94 MB
Pages
22
Format
PDF
Publication date
2023-10-01